splash screen icon Lenndi
splash screen name leendi
Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée | Pierre Richard Dahoo • Pierre Richard Dahoo • Pierre Richard Dahoo • Pierre Richard Dahoo • Philippe Pougnet • Philippe Pougnet • Philippe Pougnet • Philippe Pougnet • Abdelkhalak El Hami • Abdelkhalak El Hami • Abdelkhalak El Hami • Abdelkhalak El Hami
Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée | Pierre Richard Dahoo • Pierre Richard Dahoo • Pierre Richard Dahoo • Pierre Richard Dahoo • Philippe Pougnet • Philippe Pougnet • Philippe Pougnet • Philippe Pougnet • Abdelkhalak El Hami • Abdelkhalak El Hami • Abdelkhalak El Hami • Abdelkhalak El Hami

Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée

Publié par ISTE, le 22 juillet 2016

290 pages

Résumé

Par son approche interdisciplinaire, la mécatronique permet l'intégration en synergie de la mécanique, de l'électronique, de l'automatique et de l'informatique dans la conception et la fabrication d'un produit en vue d'optimiser sa fonctionnalité. Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d'une analyse optimisée des données expérimentales basée sur des modèles statistiques et théoriques. Les méthodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les matériaux innovants sont explicitement décrites. Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polariséedéveloppe également les différentes théories sur la lumière, ses états de polarisation et son interaction avec la matière. Il présente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d'impacter la performance d'un produit.

Plus de livres de Pierre Richard Dahoo

Voir plus

Critiques

Ce livre n'a pas encore de critiques

Vous avez lu ce livre ? Dites à la communauté Lenndi ce que vous en avez pensé 😎